El 8º Congreso Nacional de Metrología celebrará su próxima edición del 29 de septiembre, con un seminario previo, al 2 de octubre en el Palacio de Congresos La Llotja de Lleida. Celebrado cada cuatro años, se ha consolidado como una cita de referencia para el intercambio de conocimientos y la colaboración entre los profesionales de la metrología.

El programa incluirá sesiones plenarias y paralelas seleccionadas por el Comité Científico, mesas redondas, sesiones de pósteres y exhibiciones de instrumentación y aplicaciones, que abordarán algunos de los temas más relevantes y actuales del sector, entre ellos, los retos y oportunidades del mercado, los avances en metrología científica e industrial, las nuevas tecnologías aplicadas a esta disciplina. 

Dentro de este contexto, María José Cotarelo, jefa de la sección de materiales y producto industrial del Dpto. de Laboratorios y Certificación de producto de ENAC, impartirá una ponencia sobre cómo un nuevo marco normativo refuerza la demostración de la trazabilidad metrológica mediante el uso de materiales de referencia certificados. Asimismo, ENAC forma parte de los comités de Honor, Organizador y Científico del congreso, contribuyendo activamente al desarrollo y al impulso de la metrología como actor clave para la confianza en las mediciones.

Para más información, puede consultarse la página web oficial del congreso.