El 8º Congreso Nacional de Metrología celebrará su próxima edición del 29 de septiembre, con un seminario previo, al 2 de octubre en el Palacio de Congresos La Llotja de Lleida. Celebrado cada cuatro años, se ha consolidado como una cita de referencia para el intercambio de conocimientos y la colaboración entre los profesionales de la metrología.

El programa incluirá sesiones plenarias y paralelas seleccionadas por el Comité Científico, mesas redondas, sesiones de pósteres y exhibiciones de instrumentación y aplicaciones, que abordarán algunos de los temas más relevantes y actuales del sector, entre ellos, los retos y oportunidades del mercado, los avances en metrología científica e industrial, las nuevas tecnologías aplicadas a esta disciplina. 

Dentro de este contexto, María José Cotarelo, jefa de la sección de materiales y producto industrial del Dpto. de Laboratorios y Certificación de producto de ENAC, impartirá una ponencia bajo el título "La demostración de trazabilidad metrológica a partir de materiales de referencia certificados se refuerza mediante un nuevo marco normativo". Asimismo, ENAC forma parte de los comités de Honor, Organizador y Científico del congreso, contribuyendo activamente al desarrollo y al impulso de la metrología como actor clave para la confianza en las mediciones.

Para más información, puede consultarse la página web oficial del congreso.